Pulsed I(V) - Pulsed RF Measurement System for Microwave Device Characterization with 80ns/45GHz - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Pulsed I(V) - Pulsed RF Measurement System for Microwave Device Characterization with 80ns/45GHz

M. Weiss
  • Fonction : Auteur
Sebastien Fregonese
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
M. Santorelli
  • Fonction : Auteur
A. Kumar Sahoo
  • Fonction : Auteur
C. Maneux
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
T. Zimmer
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

sebastien fregonese  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01002174

Soumis le : jeudi 5 juin 2014-16:57:48

Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01002174 , version 1 (05-06-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01002174 , version 1

Citer

M. Weiss, Sebastien Fregonese, M. Santorelli, A. Kumar Sahoo, C. Maneux, et al.. Pulsed I(V) - Pulsed RF Measurement System for Microwave Device Characterization with 80ns/45GHz. European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, Sep 2012, Bordeaux, France. pp.189-192. ⟨hal-01002174⟩

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