Article Dans Une Revue
International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics
Année : 2013
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https://hal.science/hal-00994477
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-15:19:50
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-18:37:52
Citer
Phuong Pham Quang, Benoît Delinchant, Jean-Louis Coulomb. Reliability-based design optimization using local sensitivity with application to magnetic nano switch. International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics, 2013, 43 (1-2), ⟨10.3233/jae-131714⟩. ⟨hal-00994477⟩
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