Article Dans Une Revue
IEEE Electron Device Letters
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00994383
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-14:01:02
Dernière modification le : mercredi 11 septembre 2024-10:52:41
Citer
A. Diab, I. Ionica, G. Ghibaudo, S. Cristoloveanu. RC Model for Frequency Dependence of Split C-V Measurements on Bare SOI Wafers. IEEE Electron Device Letters, 2013, 34 (6), pp.792-794. ⟨10.1109/LED.2013.2257663⟩. ⟨hal-00994383⟩
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