Compressively-Stressed Test Structures for Opaque Micro-Structures Releasing Visualization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00987105 , version 1 (05-05-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00987105 , version 1

Citer

Agnes Tixier, E. Lebrasseur, T. Takahashi, Olivier Français, Bruno Le Pioufle, et al.. Compressively-Stressed Test Structures for Opaque Micro-Structures Releasing Visualization. International Conference on Microelectronic Test Structures, Mar 2014, Udine, Italy. pp.170-173. ⟨hal-00987105⟩
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