Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT

Loïc Théolier
Jean-Yves Delétage

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00955758 , version 1 (05-03-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00955758 , version 1

Citer

Kamal El Boubkari, Stéphane Azzopardi, Loïc Théolier, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard. Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT. 14ème édition de la Conférence sur l'Electronique de Puissance du Futur, Jul 2012, Bordeaux, France. ⟨hal-00955758⟩
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