Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Eric Woirgard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00955754
Soumis le : mercredi 5 mars 2014-11:10:07
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00955754 , version 1
Citer
Yassine Belmehdi, Stephane Azzopardi, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard. Investigation of mechanical stress effect on electrical behavior of Trench Punch Through IGBT under short-circuit condition at low and high temperature. European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), Sep 2011, Birmingham, United Kingdom. pp.1-10. ⟨hal-00955754⟩
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