Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Eric Woirgard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00955738
Soumis le : mercredi 5 mars 2014-10:52:43
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00955738 , version 1
Citer
Kamal El Boubkari, Stephane Azzopardi, Loïc Théolier, Raphaël Roder, Eric Woirgard, et al.. Failure initiation of IGBT due to emitter contact degradation: a 2D finite elements electro-thermal multi-cell simulation approach under hard switching, short-circuit and avalanche operations. IEEE Applied Power Electronics Conference (APEC), Mar 2013, Long Beach, United States. pp.2408 - 2415. ⟨hal-00955738⟩
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