Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2013

Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests

Ronan German
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Ampère
Olivier Briat
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Ali Sari
Ampère
CV
Pascal Venet
Ampère
CV
Mohamed Ayadi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 938827
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Younes Zitouni
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 868992
Ampère
Jean-Michel Vinassa
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Electronique Energie électrique

Olivier Briat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00950564

Soumis le : vendredi 21 février 2014-16:02:23

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-00950564 , version 1 (21-02-2014)

Identifiants

Citer

Ronan German, Olivier Briat, Ali Sari, Pascal Venet, Mohamed Ayadi, et al.. Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1643-1647. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.030⟩. ⟨hal-00950564⟩

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