Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling

Siham Hairoud
  • Fonction : Auteur
Tristan Dubois
Geneviève Duchamp
Angélique Tételin
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00938699 , version 1 (29-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00938699 , version 1

Citer

Siham Hairoud, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Angélique Tételin. Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling. EMC Compo 2013, Dec 2013, France. pp.xx-yy. ⟨hal-00938699⟩
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