%0 Conference Proceedings %T Caractérisation de matériaux électrooptiques %+ Institut de Recherche en Communications et en Cybernétique de Nantes (IRCCyN) %+ Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR) %+ Laboratoire de Physique des Isolant et d'Optronique (LPIO) %A Gardelein, Arnaud %A Razban, Tchanguiz %A Tanguy, Eric %< avec comité de lecture %( Proceeding of Journées Nationales Micro-ondes 2003 %B Journées Nationales Micro-ondes %C Lille, France %P 1 %8 2003-05-05 %D 2003 %Z Engineering Sciences [physics]/Electronics %Z Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]Conference papers %X Le problème posé est la caractérisation d'un matériau disponible en très petite quantité. Nous utilisons les propriétés d'une cavité électromagnétique. Nous mesurons la fréquence de résonance de cette structure en présence et en absence de l'échantillon dont nous cherchons la constante diélectrique. %G French %2 https://hal.science/hal-00935106/document %2 https://hal.science/hal-00935106/file/JNM2003_-_Article_-_Caract_A_risation_de_mat_A_riaux_A_lectrooptiques.pdf %L hal-00935106 %U https://hal.science/hal-00935106 %~ UNIV-NANTES %~ UNIV-RENNES1 %~ CNRS %~ INSA-RENNES %~ EC-NANTES %~ IETR %~ IETR_SRC %~ UNAM %~ UR1-HAL %~ UR1-MATH-STIC %~ UR1-UFR-ISTIC %~ IETR-CUTE %~ IETR-SYSCOM %~ IETR-ADH %~ IETR-SC %~ TEST-UNIV-RENNES %~ TEST-UR-CSS %~ UNIV-RENNES %~ INSA-GROUPE %~ UR1-MATH-NUM %~ IETR-STAR %~ IETR-ASIC %~ NANTES-UNIVERSITE %~ UNIV-NANTES-AV2022 %~ NU-CENTRALE %~ IETR-NANTES