Direct measurement of the dielectric frame rotation of monoclinic crystals as a function of the wavelength - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Optical Materials Express Année : 2014

Direct measurement of the dielectric frame rotation of monoclinic crystals as a function of the wavelength

Christian Traum
  • Fonction : Auteur
Optique et Matériaux
Patricia Loren-Inacio
  • Fonction : Auteur
Optique et Matériaux
Corinne Felix
  • Fonction : Auteur
Optique & Microscopies
Patricia Segonds
Optique et Matériaux
Alexandra Pena
Optique et Matériaux
Jérome Debray
Cristaux massifs
Benoit Boulanger
Optique et Matériaux
Yannick Petit
Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux
Daniel Rytz
  • Fonction : Auteur
FEE Gmbh
G. Montemezzani
Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes
CV
Alban Ferrier
Laboratoire de Chimie de la Matière Condensée de Paris
Philippe Goldner
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1081113
Laboratoire de Chimie de la Matière Condensée de Paris

Résumé

We report a method based on Malus' law to directly measure the dielectric frame orientation of monoclinic crystals with an accuracy of 0.3°. This technique was validated by the study of Nd3+:YCa4O(BO3)3, Sn2P2S6, BiB3O6 and Eu3+:Y2SiO5

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Optique [physics.optics]
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Christian Traum, Patricia Loren-Inacio, Corinne Felix, Patricia Segonds, Alexandra Pena, et al.. Direct measurement of the dielectric frame rotation of monoclinic crystals as a function of the wavelength. Optical Materials Express, 2014, 4 (1), pp.57-62. ⟨10.1364/OME.4.000057⟩. ⟨hal-00931889⟩

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