Advanced X-ray analyses on epitaxially-grown thin films for optoelectronic applications - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Advanced X-ray analyses on epitaxially-grown thin films for optoelectronic applications

Domaines

Optique / photonique

Soline Boyer  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00918793

Soumis le : dimanche 15 décembre 2013-00:38:09

Dernière modification le : lundi 16 septembre 2024-17:52:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00918793 , version 1 (15-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00918793 , version 1

Citer

Olivier Durand, Thanh Tra Nguyen, Yanping Wang, Antoine Létoublon, Charles Cornet, et al.. Advanced X-ray analyses on epitaxially-grown thin films for optoelectronic applications. 15th International Conference of Physical Chemistry - ROMPHYSCHEM-15, Sep 2013, Bucharest, Romania. ⟨hal-00918793⟩

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