Origin and observations of extended defects in III-V epilayers on Si - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00918738 , version 1 (14-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00918738 , version 1

Citer

Anne Ponchet, Julien Stodolna, Charles Cornet, Antoine Létoublon, Thanh Tra Nguyen, et al.. Origin and observations of extended defects in III-V epilayers on Si. International Workshop "Silicon & Photonics", Jun 2013, Rennes, France. ⟨hal-00918738⟩
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