Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range

M. Potereau
CV
C. Raya
  • Fonction : Auteur
Magali de Matos
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 916869
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Sébastien Fregonese
Nanoélectronique/MODEL
Arnaud Curutchet
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 853090
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
M. Zhang
  • Fonction : Auteur
B. Ardouin
  • Fonction : Auteur
Thomas Zimmer
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 860621
NANOELECTRONIQUE/MODEL

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Valérie Abel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00909399

Soumis le : mardi 26 novembre 2013-11:14:08

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00909399 , version 1 (26-11-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00909399 , version 1

Citer

M. Potereau, C. Raya, Magali de Matos, Sébastien Fregonese, Arnaud Curutchet, et al.. Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range. ECC 2013 conference, Nov 2013, Sanya, China. ⟨hal-00909399⟩

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