Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2013

Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Valérie Abel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00909053

Soumis le : lundi 25 novembre 2013-16:50:42

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00909053 , version 1 (25-11-2013)

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Citer

Gilles Amadou Koné, Brice Grandchamp, Cyril Hainaut, François Marc, Nathalie Labat, et al.. Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements. IEEE Transactions on Electron Devices, 2013, 60 (3), pp.1068-1074. ⟨10.1109/TED.2013.2241067⟩. ⟨hal-00909053⟩

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