80 ns/45 GHz Pulsed measurement system for DC and RF characterization of high speed microwave devices - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2013

80 ns/45 GHz Pulsed measurement system for DC and RF characterization of high speed microwave devices

Mario Weib
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Sébastien Fregonese
Nanoélectronique/MODEL
Marco Santorelli
  • Fonction : Auteur
Kumar Sahoo Amit
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Cristell Maneux
NANOELECTRONIQUE/MODEL
Thomas Zimmer
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 860621
NANOELECTRONIQUE/MODEL

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Valérie Abel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00909009

Soumis le : lundi 25 novembre 2013-16:13:22

Dernière modification le : samedi 1 juillet 2023-04:31:34

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Dates et versions

hal-00909009 , version 1 (25-11-2013)

Identifiants

Citer

Mario Weib, Sébastien Fregonese, Marco Santorelli, Kumar Sahoo Amit, Cristell Maneux, et al.. 80 ns/45 GHz Pulsed measurement system for DC and RF characterization of high speed microwave devices. Solid-State Electronics, 2013, 84, pp.74-82. ⟨10.1016/j.sse.2013.02.027⟩. ⟨hal-00909009⟩

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