Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2013

Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00903759

Soumis le : mercredi 13 novembre 2013-08:33:25

Dernière modification le : jeudi 25 janvier 2024-03:38:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00903759 , version 1 (13-11-2013)

Identifiants

Citer

Kamel Haddadi, T. Lasri. Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2013, 62, pp.3189-3193. ⟨10.1109/TIM.2013.2270918⟩. ⟨hal-00903759⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE ANR
23 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More