[Invited] Scanning tunnelling microscopy and angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of graphene on SiC (C-face) substrate grown by Si flux-assisted molecular beam epitaxy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

[Invited] Scanning tunnelling microscopy and angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of graphene on SiC (C-face) substrate grown by Si flux-assisted molecular beam epitaxy

I. Razado-Colambo
  • Fonction : Auteur
X. Wallart
E. Moreau
S. Godey
J. Avila
  • Fonction : Auteur
M.C. Asensio
  • Fonction : Auteur
D. Vignaud
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00878498 , version 1 (30-10-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00878498 , version 1

Citer

I. Razado-Colambo, J.P. Nys, X. Wallart, E. Moreau, S. Godey, et al.. [Invited] Scanning tunnelling microscopy and angle-resolved photoelectron spectroscopy studies of graphene on SiC (C-face) substrate grown by Si flux-assisted molecular beam epitaxy. PDI Topical Workshop on MBE-Grown Graphene, 2013, Berlin, Germany. ⟨hal-00878498⟩
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