Exploring grain boundary response to a mechanical stress in small grained metals by in-situ transmission electron microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Exploring grain boundary response to a mechanical stress in small grained metals by in-situ transmission electron microscopy

Frédéric Mompiou
CV
Marc Legros
CV
A. Boé
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
M. Coulombier
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
T. Pardoen
  • Fonction : Auteur
J. Sharon
  • Fonction : Auteur
K. Hemker
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00878474

Soumis le : mercredi 30 octobre 2013-10:52:37

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00878474 , version 1 (30-10-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00878474 , version 1

Citer

Frédéric Mompiou, Marc Legros, A. Boé, M. Coulombier, J.P. Raskin, et al.. Exploring grain boundary response to a mechanical stress in small grained metals by in-situ transmission electron microscopy. XIV International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials, IIB 2013, 2013, Halkidiki, Greece. ⟨hal-00878474⟩

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