Interferometric technique for scanning near-field microwave microscopy applications - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Interferometric technique for scanning near-field microwave microscopy applications

H. Bakli
  • Fonction : Auteur
Kamel Haddadi
CV
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00877837

Soumis le : mardi 29 octobre 2013-11:29:16

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00877837 , version 1 (29-10-2013)

Identifiants

Citer

H. Bakli, Kamel Haddadi, T. Lasri. Interferometric technique for scanning near-field microwave microscopy applications. IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2013, 2013, Minneapolis, MN, United States. pp.1694-1698, ⟨10.1109/I2MTC.2013.6555703⟩. ⟨hal-00877837⟩

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