Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
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https://hal.science/hal-00877721
Soumis le : mardi 29 octobre 2013-10:30:54
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
S. Oeuvrard, Jean-Francois Lampin, Guillaume Ducournau, L. Virot, J.M. Fedeli, et al.. Optical high frequency test structure and test bench definition for on wafer silicon integrated noise source characterization up to 110 GHz based on germanium-on-silicon photodiode. 26th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2013, 2013, Osaka, Japan. pp.73-76, ⟨10.1109/ICMTS.2013.6528148⟩. ⟨hal-00877721⟩
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