Thermal effects in magnetoelectric memories with stress-mediated switching

S. Giordano; Yannick Dusch; Nicolas Tiercelin; Philippe Pernod; Vladimir Preobrazhensky

doi:10.1088/0022-3727/46/32/325002

Article Dans Une Revue Journal of Physics D: Applied Physics Année : 2013

Thermal effects in magnetoelectric memories with stress-mediated switching

(1) , , , ,

1

S. Giordano

Fonction : Auteur

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Yannick Dusch

Fonction : Auteur
PersonId : 750978
IdHAL : yannick-dusch

Nicolas Tiercelin

Fonction : Auteur
PersonId : 737105
IdHAL : nicolas-tiercelin
ORCID : 0000-0001-7400-4272
IdRef : 155905449

Philippe Pernod

Fonction : Auteur
PersonId : 744806
IdHAL : philippe-pernod
ORCID : 0000-0002-6708-8487
IdRef : 061171646

Vladimir Preobrazhensky

Fonction : Auteur
PersonId : 750390
IdHAL : vladimir-preobrazhensky

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https://hal.science/hal-00871920

Soumis le : vendredi 11 octobre 2013-09:22:31

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-00871920 , version 1 (11-10-2013)

Identifiants

HAL Id : hal-00871920 , version 1
DOI : 10.1088/0022-3727/46/32/325002

Citer

S. Giordano, Yannick Dusch, Nicolas Tiercelin, Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky. Thermal effects in magnetoelectric memories with stress-mediated switching. Journal of Physics D: Applied Physics, 2013, 46, pp.325002-1-12. ⟨10.1088/0022-3727/46/32/325002⟩. ⟨hal-00871920⟩

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