Defect detection based on thermal periodic excitation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Defect detection based on thermal periodic excitation

Marie-Françoise Gerard  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00846526

Soumis le : vendredi 19 juillet 2013-11:57:30

Dernière modification le : mardi 3 décembre 2024-15:44:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00846526 , version 1 (19-07-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00846526 , version 1

Citer

Antoine Crinière, B. Lascoup, Laetitia Perez, Laurent Autrique. Defect detection based on thermal periodic excitation. ECCM 2012, 15th EUROPEAN CONFERENCE ON COMPOSITE MATERIALS, Jun 2012, Venise, Italy. ⟨hal-00846526⟩

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