Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2013
Fabrice GOURBILLEAU : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00846348
Soumis le : vendredi 19 juillet 2013-09:24:46
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Chuan-Hui Liang, Julien Cardin, Christophe Labbé, Fabrice Gourbilleau. Evidence of two sensitization processes of Nd3+ ions in Nd-doped SiOx films. Journal of Applied Physics, 2013, 114, pp.033103. ⟨10.1063/1.4813610⟩. ⟨hal-00846348⟩
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