Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control
Année : 2013
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https://hal.science/hal-00821236
Soumis le : mercredi 8 mai 2013-09:38:09
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
A. Ghalem, Freddy Ponchel, Denis Remiens, Jean-François Legier, T. Lasri. Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2013, 60, pp.880-887. ⟨10.1109/TUFFC.2013.2645⟩. ⟨hal-00821236⟩
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