Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control Année : 2013

Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor

A. Ghalem
  • Fonction : Auteur
Freddy Ponchel
Denis Remiens
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00821236 , version 1 (08-05-2013)

Identifiants

Citer

A. Ghalem, Freddy Ponchel, Denis Remiens, Jean-François Legier, T. Lasri. Broadband dielectric characterization of sapphire/TiOx/Ba0.3Sr0.7TiO3 (111)-oriented thin films for the realization of a tunable interdigitated capacitor. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2013, 60, pp.880-887. ⟨10.1109/TUFFC.2013.2645⟩. ⟨hal-00821236⟩
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