Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
Année : 2012
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00819467
Soumis le : mercredi 1 mai 2013-15:16:55
Dernière modification le : mercredi 5 juin 2024-03:23:27
Citer
Y. Tagro, N. Waldhoff, D. Gloria, S. Boret, Gilles Dambrine. In situ silicon-integrated tuner for automated on-wafer mmW noise parameters extraction using multi-impedance method for transistor characterization. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 2012, 25, pp.170-177. ⟨10.1109/TSM.2011.2181673⟩. ⟨hal-00819467⟩
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