Strain effect on the electronic properties of thiolated sub 10-nm-diameter gold nanocrystals as determined by scanning probe microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Strain effect on the electronic properties of thiolated sub 10-nm-diameter gold nanocrystals as determined by scanning probe microscopy

N. Clement
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
S. Desbief
  • Fonction : Auteur
K. Smaali
  • Fonction : Auteur
G. Patriarche
D. Vuillaume
  • Fonction : Auteur
P. Leclere
  • Fonction : Auteur

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00811781

Soumis le : jeudi 11 avril 2013-10:14:35

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00811781 , version 1 (11-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00811781 , version 1

Citer

N. Clement, S. Desbief, K. Smaali, G. Patriarche, D. Vuillaume, et al.. Strain effect on the electronic properties of thiolated sub 10-nm-diameter gold nanocrystals as determined by scanning probe microscopy. Materials Research Society Spring Meeting, MRS Spring 2013, Symposium Y : Advances in Scanning Probe Microscopy for Imaging Functionality on the Nanoscale, 2013, San Francisco, CA, United States. ⟨hal-00811781⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
136 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More