Electrical transport measurements and topography of semiconductor nanowires by four probe and low temperature scanning tunneling microscopy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Electrical transport measurements and topography of semiconductor nanowires by four probe and low temperature scanning tunneling microscopy

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00807584

Soumis le : jeudi 4 avril 2013-08:40:41

Dernière modification le : jeudi 11 juillet 2024-03:26:27

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00807584 , version 1 (04-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00807584 , version 1

Citer

Corentin Durand, Maxime Berthe, Thanh Hai Nguyen, Philippe Caroff, Jean-Philippe Nys, et al.. Electrical transport measurements and topography of semiconductor nanowires by four probe and low temperature scanning tunneling microscopy. Herodot Summer School, 2011, Cargese, France. ⟨hal-00807584⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
20 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More