Communication Dans Un Congrès
Année : 2012
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https://hal.science/hal-00802566
Soumis le : mercredi 20 mars 2013-10:11:18
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00802566 , version 1
Citer
J.P. Biethan, L. Considine, D. Pavlidis, A. Addad, David Troadec, et al.. TEM analysis of ZnO nanostructures and epitaxial layers grown by MOCVD. 11th Expert Meeting on Evaluation & Control of Coumpound Semiconductor Materials and Technologies, EXMATEC 2012, 2012, Porquerolles, France. pp.1-2. ⟨hal-00802566⟩
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