Characterization and analysis of different surface passivation for AlGaN/GaN HEMTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Characterization and analysis of different surface passivation for AlGaN/GaN HEMTs

F. Lecourt
  • Fonction : Auteur
N. Defrance
S. Rennesson
  • Fonction : Auteur
Virginie Hoel
Y. Cordier
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00801154 , version 1 (15-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00801154 , version 1

Citer

F. Lecourt, N. Defrance, S. Rennesson, Virginie Hoel, Y. Cordier, et al.. Characterization and analysis of different surface passivation for AlGaN/GaN HEMTs. 36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012, 2012, Porquerolles, France. pp.1-2. ⟨hal-00801154⟩
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