High frequency noise potentialities of reported CMOS 65 nm SOI technology on flexible substrate - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

High frequency noise potentialities of reported CMOS 65 nm SOI technology on flexible substrate

Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
L. Poulain
  • Fonction : Auteur
Sylvie Lepilliet
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
C. Raynaud
Emmanuel Dubois
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00801054 , version 1 (15-03-2013)

Identifiants

Citer

Y. Tagro, A. Lecavelier Des Etangs-Levallois, L. Poulain, Sylvie Lepilliet, D. Gloria, et al.. High frequency noise potentialities of reported CMOS 65 nm SOI technology on flexible substrate. 12th IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in Rf Systems, SiRF 2012, 2012, Santa Clara, CA, United States. pp.89-92, ⟨10.1109/SiRF.2012.6160147⟩. ⟨hal-00801054⟩
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