Silicon high frequency test structures improvement for millimeter wave varactors characterization, optimization and modeling - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Silicon high frequency test structures improvement for millimeter wave varactors characterization, optimization and modeling

F. Sonnerat
  • Fonction : Auteur
R. Debroucke
  • Fonction : Auteur
Y. Morandini
  • Fonction : Auteur
D. Gloria
  • Fonction : Auteur
Jean-Daniel Arnould
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00800125 , version 1 (13-03-2013)

Identifiants

Citer

F. Sonnerat, R. Debroucke, Y. Morandini, D. Gloria, Jean-Daniel Arnould, et al.. Silicon high frequency test structures improvement for millimeter wave varactors characterization, optimization and modeling. 24th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS 2011, 2011, Amsterdam, Netherlands. pp.101-104, ⟨10.1109/ICMTS.2011.5976868⟩. ⟨hal-00800125⟩
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