Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks

Sabrina Fourez
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1307661
  • IdRef : 171525531
Frédéric Jenot
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Mohammadi Ouaftouh
CV
Marc Duquennoy
Mohamed Ourak

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https://hal.science/hal-00798860

Soumis le : lundi 11 mars 2013-09:05:32

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00798860 , version 1 (11-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00798860 , version 1

Citer

Sabrina Fourez, Frédéric Jenot, Mohammadi Ouaftouh, Marc Duquennoy, Mohamed Ourak. Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks. 6th International Symposium on Signal, Image, Video and Communications, ISIVC 2012, 2012, Valenciennes, France. ⟨hal-00798860⟩

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