Article Dans Une Revue
Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly
Année : 2012
Isabelle Bord : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00797400
Soumis le : mercredi 6 mars 2013-12:07:03
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00797400 , version 1
Citer
E. Suhir, L. Bechou, A. Bensoussan. Technical Diagnostics in Electronics: Application of Bayes Formula and Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) Model. Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly, 2012, 29 (12), pp.25-28. ⟨hal-00797400⟩
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