Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
Minghua Shi
,
J. Saint-Martin
,
A. Bournel
,
D. Querlioz
,
P. Dollfus
,
J.J. Mo
,
Nicolas Wichmann
,
L. Desplanque
,
X. Wallart
,
Francois Danneville
,
S. Bollaert
(1)
Minghua Shi
- Fonction : Auteur
J. Saint-Martin
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : jerome-saint-martin
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A. Bournel
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : arnaud-bournel
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D. Querlioz
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : damien-querlioz
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P. Dollfus
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : philippe-dollfus
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J.J. Mo
- Fonction : Auteur
Nicolas Wichmann
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : nicolas-wichmann
L. Desplanque
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : ludovicdesplanque
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X. Wallart
- Fonction : Auteur
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Francois Danneville
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S. Bollaert
- Fonction : Auteur
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