Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Nanoscience and Nanotechnology Année : 2013

Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

Minghua Shi
  • Fonction : Auteur
J. Saint-Martin
A. Bournel
D. Querlioz
P. Dollfus
J.J. Mo
  • Fonction : Auteur
Nicolas Wichmann
L. Desplanque
X. Wallart
Francois Danneville
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00795954 , version 1 (01-03-2013)

Identifiants

Citer

Minghua Shi, J. Saint-Martin, A. Bournel, D. Querlioz, P. Dollfus, et al.. Numerical and experimental assessment of charge control in III-V nano-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor. Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 2013, 13, pp.771-775. ⟨10.1166/jnn.2013.6115⟩. ⟨hal-00795954⟩
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