Article Dans Une Revue
Measurement Science and Technology
Année : 2012
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00790376
Soumis le : mercredi 20 février 2013-09:30:08
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00790376 , version 1
- DOI : 10.1088/0957-0233/23/8/085608
Citer
Sabrina Fourez, Frédéric Jenot, Mohammadi Ouaftouh, Marc Duquennoy, Mohamed Ourak. Non-contact thickness gauging of a thin film using surface waves and a void effect on their propagation. Measurement Science and Technology, 2012, 23, pp.085608-1-8. ⟨10.1088/0957-0233/23/8/085608⟩. ⟨hal-00790376⟩
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