Article Dans Une Revue
NDT & E International
Année : 2012
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https://hal.science/hal-00790366
Soumis le : mercredi 20 février 2013-09:18:09
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00790366 , version 1
- DOI : 10.1016/j.ndteint.2011.09.005
Citer
G. Bourse, Wei-Jiang Xu, A. Mouftiez, L. Vandevoorde, Mohamed Ourak. Interfacial adhesion characterization of plasma coatings by V(z) inversion technique and comparison to interfacial indentation. NDT & E International, 2012, 45, pp.22-31. ⟨10.1016/j.ndteint.2011.09.005⟩. ⟨hal-00790366⟩
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