60-GHz near-field six-port microscope using a scanning slit probe for subsurface sensing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Sensors Journal Année : 2012

60-GHz near-field six-port microscope using a scanning slit probe for subsurface sensing

T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00788271 , version 1 (14-02-2013)

Identifiants

Citer

Kamel Haddadi, T. Lasri. 60-GHz near-field six-port microscope using a scanning slit probe for subsurface sensing. IEEE Sensors Journal, 2012, 12, pp.2575-2576. ⟨10.1109/JSEN.2012.2197197⟩. ⟨hal-00788271⟩
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