Article Dans Une Revue
IEEE Sensors Journal
Année : 2012
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00788271
Soumis le : jeudi 14 février 2013-10:51:38
Dernière modification le : samedi 8 juin 2024-03:24:37
Citer
Kamel Haddadi, T. Lasri. 60-GHz near-field six-port microscope using a scanning slit probe for subsurface sensing. IEEE Sensors Journal, 2012, 12, pp.2575-2576. ⟨10.1109/JSEN.2012.2197197⟩. ⟨hal-00788271⟩
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