Electrical characterization and modeling of the amorphous/crystalline silicon interface - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Electrical characterization and modeling of the amorphous/crystalline silicon interface

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00778999

Soumis le : lundi 21 janvier 2013-15:57:52

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-09:36:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00778999 , version 1 (21-01-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00778999 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider, Renaud Varache, Wilfried Favre, Olga Maslova, José Alvarez, et al.. Electrical characterization and modeling of the amorphous/crystalline silicon interface. E-MRS 2012 Spring Meeting, May 2012, Strasbourg, France. ⟨hal-00778999⟩

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