Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2012
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https://hal.science/hal-00745982
Soumis le : vendredi 26 octobre 2012-16:23:25
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:30:36
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00745982 , version 1
Citer
S. Barnat, Hélène Fremont, Alexandrine Guedon-Gracia, Eric Cadalen. Evaluation by three-point-bend and ball-on-ring tests of thinning process on silicon die strength. Microelectronics Reliability, 2012, 9-11 (52), pp 2278-2282. ⟨hal-00745982⟩
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