Test metrics computation using the statistical model of analog circuits - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Test metrics computation using the statistical model of analog circuits

K. Beznia
  • Fonction : Auteur
Lab-STICC_UBO_CACS_MOCS
Ahcène Bounceur
Lab-STICC_UBO_CACS_MOCS
CV
Salvador Mir
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
Reinhardt Euler
Lab-STICC_UBO_CACS_MOCS

Mots clés

test analog-circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00745445

Soumis le : jeudi 25 octobre 2012-15:07:55

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:37:17

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00745445 , version 1 (25-10-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00745445 , version 1

Citer

K. Beznia, Ahcène Bounceur, Salvador Mir, Reinhardt Euler. Test metrics computation using the statistical model of analog circuits. Journées GDR SoC-SiP, Jun 2012, Paris, France. ⟨hal-00745445⟩

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