Polarity determination in ZnSe nanowires by HAADF STEM - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Physics: Conference Series Année : 2011

Polarity determination in ZnSe nanowires by HAADF STEM

Résumé

High angle annular dark field scanning transmission electron microscopy is used to analyze the polarity of ZnSe nanowires grown, by molecular beam epitaxy, on GaAs substrates. The experimental results are compared to simulated images in order to verify possible experimental artefacts. In this work we show that for this type of nano-objects, a residual tilt of the specimen below 15 mrad, away from the crystallographic zone axis does not impair the interpretation of the experimental images.

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
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Soumis le : vendredi 20 juillet 2012-16:59:24

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Archivage à long terme le : dimanche 21 octobre 2012-03:30:16

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hal-00719757 , version 1 (20-07-2012)

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Citer

Martien den Hertog, Miryam Elouneg-Jamroz, Edith Bellet-Amalric, Samir Bounouar, Catherine Bougerol, et al.. Polarity determination in ZnSe nanowires by HAADF STEM. Journal of Physics: Conference Series, 2011, 326, pp.012044. ⟨10.1088/1742-6596/326/1/012044⟩. ⟨hal-00719757⟩

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