Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue International Journal of Nanotechnology Année : 2012

Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy

M. Dehlinger
  • Fonction : Auteur
C. Dorczynski
  • Fonction : Auteur
C. Fauquet
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
F. Jandard
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
D. Tonneau
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
A. Bjeoumikhov
  • Fonction : Auteur
S. Bjeoumikhova
  • Fonction : Auteur
R. Gubzhokov
  • Fonction : Auteur
A. Erko
  • Fonction : Auteur
I. Zizak
  • Fonction : Auteur
D. Pailharey
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
S. Ferrero
B. Dahmani
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00697528

Soumis le : mardi 15 mai 2012-15:39:28

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

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Dates et versions

hal-00697528 , version 1 (15-05-2012)

Identifiants

Citer

M. Dehlinger, C. Dorczynski, C. Fauquet, F. Jandard, D. Tonneau, et al.. Feasibility of simultaneous surface topography and XRF mapping using Shear Force Microscopy. International Journal of Nanotechnology, 2012, 9 (3-7), pp.460-470. ⟨10.1504/IJNT.2012.045348⟩. ⟨hal-00697528⟩

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