Communication Dans Un Congrès
Année : 2012
Oum-El-Kheir Aktouf : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00676582
Soumis le : lundi 5 mars 2012-16:24:56
Dernière modification le : jeudi 8 février 2024-15:04:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00676582 , version 1
Citer
Rafik Kheddam, Oum-El-Kheir Aktouf, Ioannis Parissis. An extended LLRP model for RFID system test and diagnosis. The 8th Workshop on Advances in Model Based Testing, Apr 2012, Quebec, Canada. pp.10. ⟨hal-00676582⟩
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