A high accuracy femto-/picosecond laser damage test facility dedicated to the study of optical thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Review of Scientific Instruments Année : 2012

A high accuracy femto-/picosecond laser damage test facility dedicated to the study of optical thin films

Benoit Mangote
  • Fonction : Auteur
ILM
Laurent Gallais
ILM
Myriam Zerrad
L.H. Gao
  • Fonction : Auteur
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
ILM
Michel Lequime
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832181
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00674863 , version 1 (28-02-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00674863 , version 1

Citer

Benoit Mangote, Laurent Gallais, Myriam Zerrad, Fabien Lemarchand, L.H. Gao, et al.. A high accuracy femto-/picosecond laser damage test facility dedicated to the study of optical thin films. Review of Scientific Instruments, 2012, 83, pp.013109. ⟨hal-00674863⟩
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