Impact of Power Consumption and Temperature on Processor Lifetime Reliability - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue American Scientific Publishers in JOLPE Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00674305 , version 1 (27-02-2012)

Identifiants

Citer

Tushar Gupta, Clément Bertolini, Olivier Héron, Nicolas Ventroux, Thomas Zimmer, et al.. Impact of Power Consumption and Temperature on Processor Lifetime Reliability. American Scientific Publishers in JOLPE, 2011, pp.Vol. 7 N° 5. ⟨10.1166/jolpe.2012.1174⟩. ⟨hal-00674305⟩
92 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More