Article Dans Une Revue
American Scientific Publishers in JOLPE
Année : 2011
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00674305
Soumis le : lundi 27 février 2012-10:02:48
Dernière modification le : mercredi 3 avril 2024-11:14:12
Citer
Tushar Gupta, Clément Bertolini, Olivier Héron, Nicolas Ventroux, Thomas Zimmer, et al.. Impact of Power Consumption and Temperature on Processor Lifetime Reliability. American Scientific Publishers in JOLPE, 2011, pp.Vol. 7 N° 5. ⟨10.1166/jolpe.2012.1174⟩. ⟨hal-00674305⟩
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