Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2010
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00674295
Soumis le : lundi 27 février 2012-09:52:11
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00674295 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2010.07.097
Citer
S. Gosh, François Marc, Cristell Maneux, Brice Grandchamp, Gilles Amadou Koné, et al.. Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT. Microelectronics Reliability, 2010, (9-11) (50), pp. 1554-1558. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.097⟩. ⟨hal-00674295⟩
Collections
75
Consultations
0
Téléchargements