Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2011
Nathalie Labat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00670531
Soumis le : mercredi 15 février 2012-15:50:10
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:59:29
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00670531 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2011.07.071
Citer
A. Aubert, S. Jacques, S. Pétremont, N. Labat, H. Frémont. Experimental power cycling on insulated TRIAC package: Reliability interpretation thanks to an innovative failure analysis flow. Microelectronics Reliability, 2011, 51 (9-11), pp.1849-1849. ⟨10.1016/j.microrel.2011.07.071⟩. ⟨hal-00670531⟩
Collections
35
Consultations
0
Téléchargements