Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2007

Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan

Résumé

The paper describes a susceptibility characterization test for integrated circuits using a miniature magnetic near field probe. The method is efficient up to a frequency of 6 GHz and maps immunity to radiated fields.

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Electronique
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https://hal.science/hal-00669747

Soumis le : lundi 13 février 2012-17:59:15

Dernière modification le : vendredi 17 novembre 2023-09:42:55

Archivage à long terme le : lundi 14 mai 2012-02:55:57

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Dates et versions

hal-00669747 , version 1 (13-02-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00669747 , version 1

Citer

Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard. Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan. Electronics Letters, 2007, 43 (1), pp.15. ⟨hal-00669747⟩

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